上海儀電 原上海精科/上分 UV754N紫外可見分光光度計UV754N紫外可見分光光度計 是一種能適應(yīng)現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進(jìn)行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專院校及質(zhì)量控制等部門。
上海儀電 原上海精科/上分 UV754N紫外可見分光光度計
特點:
● 采用*全息閃耀光柵單色器,具有波長精度高,單色性好,雜散光低等優(yōu)點。
● 一鍵實現(xiàn)自動調(diào)零和調(diào)滿度功能。
● 嚴(yán)密的工藝及元件選擇,保證儀器測量系統(tǒng)的低漂移和低噪聲,使儀器具有超群的測量讀數(shù)重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。
● 大屏幕字符型液晶顯示器。
● 數(shù)據(jù)打印和時間打印。
● 待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法二種濃度線性回歸運算。
● *的自動消除比色皿誤差功能。
● 配有高速熱敏打印機
● 配合軟件UVWin7使用,拓展儀器的使用功能。
● UVWin7軟件包(另購)。
主要技術(shù)指標(biāo):
● 波長范圍;200nm~1000nm
● 波長zui大允許誤差:±2nm
● 波長重復(fù)性:≤1nm
● 透射比zui大允許誤差:±0.5%(T)(以NBS930D測定)
● 透射比重復(fù)性:≤0.2%(T)
● 光譜帶寬:4nm
● 雜散光: 0.3%(T)(在220nm處,以NaI測定,在360nm處,以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性:暗電流漂移:≤0.2%(T)/3min 亮電流漂移:≤0.5(T)/3min
上海儀電 原上海精科/上分 UV754N紫外可見分光光度計
訂購:
上海屹利科學(xué)儀器有限公司 www.elab17.cn
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